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CCD制造工艺和材料的不均匀性

上海思掣电子科技有限公司时间:2019-07-15 点击:
CCD检测系统由于CCD制造工艺和材料的不均匀性,如沟道掺杂浓度不均匀,表面密度分布不均匀和栅氧化层厚度差异引起的开路电压不同,光敏单元有效面积不同,响应的不均匀性CCD光敏元件,器件越大,非均匀性问题越突出,产生的暗电流分布也不均匀,直接导致CCD的固定图像噪声,导致CCD在实际测量中,存在测量结果与实际值不匹配的问题。
  光学镜头主要使用各种镜头结构来校正单镜头造成的失真,但由于镜头中光线的折射率不一样,镜头传输后,镜头的干涉会产生像差。镜头,如球面像差。晕和失光。目前在CCD检测系统中使用的镜头只能使失真最小化,并且不能避免失真。
  随着自身温度的升高,高强度单色光源中LED的亮度会有一定程度的衰减。同时,光源在发光表面上的不均匀性也会导致CCD响应的不均匀性,并且环境光的照射也会受到影响。 CCD成像表面的照度值直接影响检测结果。
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